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デバイス構造からプロセスを解きほぐす 「デバイス解体新書」

『化合物半導体』のすべて
製造プロセス&フローと装置技術はより詳細に!

2008年11月12日(水) 10:00〜17:20
  於 明神会館(東京・御茶ノ水)


多数のご参加、ありがとうございました。

 高速動作、高耐圧、発光など、シリコン系半導体では得られない特性を生かし、独自のアプリケーション分野と市場を切り拓き続ける化合物半導体。しかし、実ビジネスにおいて、基礎知識や基本用語がなかなか有機的に結び付かず、悩まれている方も多いのではないでしょうか。
 そこで、半導体産業新聞では、化合物半導体関連の基本をある程度ご存知の方々を対象に、「化合物半導体のすべて」を企画しました。午前中にデバイスの種類と特性を整理した後は、午後すべての時間を割いてプロセスと装置・材料技術、そして製造プロセス・フローの解説を行います。既存の知識と用語を整理し、ビジネスを円滑に進めるための一手段として、ぜひ同セミナーにご参加ください。

■ 講演内容

10:00〜11:00

化合物半導体の世界
化合物半導体はシリコン半導体となにが、どう違う

 まずは化合物半導体の世界を理解していただくために、四つの視点から解説します。
 一つはシリコンと比較した材料の差異で、移動度、熱伝導度、破壊強度の視点から見てみます。二つ目は化合物半導体の特徴で、高速動作や高耐圧などに代表される長所とコストおよび結晶品質などに代表される短所を明確にします。三つ目のアプリケーション展開では、高周波デバイスと光デバイスの世界を提示します。そして最後に、シリコン半導体との棲み分けを探ります。

11:00〜12:00

化合物半導体の種類とデバイス構造
話題のGaN、SiC、LEDにも言及

 ここでは高周波デバイスと光デバイスを取り上げます。  高周波デバイスはFET、HBT、HEMT、GaN、SiCに分類し、それぞれの構造と原理、そして応用例について解説します。
 一方、光デバイスは、発光と受光に二分して解説を行います。発光はLEDとLDを取り上げ、LDに関してはFP、DFB、VCSELについて、それぞれの構造、原理と応用例について解説します。

12:00〜13:00  ランチ+名刺交換会
13:00〜15:00

化合物半導体製造のための要素プロセスと装置・材料技術
主要9プロセスと三つの材料技術を解説

 以下に示す主要9プロセスと、各プロセス処理装置について解説します。

(1)結晶成長=LEC、VB、MBE、MOCVD (2)リソグラフィ=レジスト塗布、露光、現像 (3)レジスト除去=ウェット除去、ドライ除去 (4)成膜=スパッタ、蒸着、CVD、めっき(電解、無電解) (5)エッチング=ウェットエッチング、ドライエッチング(プラズマエッチング、RIE) (6)イオン注入=イオン注入器 (7)基板薄板化=基板研削、ポリッシュ (8)チップ分離=ダイシング、スクライブ (9)検査=電気特性評価、測長、膜厚測定

 材料に関しては、(1)レジスト、(2)ウェットエッチャント、(3)金属材料について、解説を行います。

15:00〜15:20  コーヒーブレイク
15:20〜17:20

化合物半導体の製造プロセス・フローを追う
高周波デバイスの製造プロセス・フローを例に

 前テーマで、化合物半導体製造のために必要な主要9プロセスと各プロセス処理装置、および材料について解説を行いました。
 講演の最後は、これらのプロセス・装置・材料を駆使し、高周波デバイスができるまでの製造プロセス・フローを、以下の流れに従い、丹念に追い掛けていきます。

[エピ成長]−[素子分離]−[ソース・ドレイン形成]−[ゲート形成]−[保護膜形成]−[配線形成]−[裏面処理]−[チップ分離]−[パッケージング]−[検査]

なお、光デバイスに関しては、結晶成長がポイントになり、また電極形成や保護膜形成は高周波デバイスのプロセス技術と共通する点も多いことから、工程フローの要点のみ解説します。

石川 高英氏 講師:石川 高英
三菱電機(株) 高周波光デバイス製作所 開発部 部長
 

*講演タイトルは都合により変更することがあります。ご了承下さい。

■ イベント概要

主催:
半導体産業新聞
コード:
H38
日時:
2008年11月12日(水) 10:00〜17:20
会場:
東京・御茶ノ水 明神会館(神田明神境内)
参加費:
3万7,800円/1名(テキスト、食事・飲み物付、消費税込)

■ お問い合わせ先

○ 産業タイムズ社 事業部
   FAX: 03-5835-5494  TEL: 03-5835-5894
   E-mail: scnw@sangyo-times.co.jp





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